- Osciloskopy
- Multimetre
- Zber dát
- Napájacie zdroje
- Logické analyzátory
- LCR metre
- Generátory signálov
- Spektrálne analyzátory
- Obvodové analyzátory
- Ostatné RF a MW
- GPIB komunikácia
- Software
- Telekomunikácie a dáta
- Optické merania
- Testovacie stanice
- Nanotechnologia
- EMI/EMC
- Ostatné
- USB modulárny merací systém
- Výukové zostavy
- SMU
- Zosilňovače
Elektrická měření nejen pro automobilové a polovodičové aplikace
Vážení zákazníci,dovolte nám, abychom Vás tímto pozvali na náš bezplatný seminář o měřicí technice „Elektrická měření nejen pro automobilové a polovodičové aplikace“, který se koná ve středu 24. dubna 2013 v kongresovém sálu hotelu Eroplán, Ostravská 451, Rožnov pod Radhoštěm.
mapka
Program semináře bude následující:
| 9:30 – 9:45 | Zahájení semináře |
| 9:45 - 10:30 | Měření moderních automobilových sběrnic |
|
|
| 10:30 - 11:30 | Novinky v testování polovodičů a součástek |
|
|
| 11:30 - 12:30 | Oběd |
| 12:30 - 13:15 | Dynamická měření signálů s vysokým rozlišením |
|
|
| 13:15 - 14:00 | Modulární instrumentace nejen do výrobních aplikací |
|
|
| 14:00 - 14:15 | Ukončení semináře |
Pokud máte zájem se semináře zúčastnit, pošlete nám prosím krátkou zprávu o Vaší registraci.
Veškeré doplňující dotazy k tomuto semináři nebo Vaše požadavky na měřicí techniku
Agilent Technologies či
Cascade Microtech Vám rádi zodpovíme na telefonu 235 365 207, nebo na e-mailu info@htest.cz.
Těšíme se na setkání s Vámi.
Amper 2013
Vážení zákazníci,
i v letošním roce ze zúčastníme veletrhu Amper, který se koná ve dnech 19.-22.3. 2013 na Výstavišti Brno. Budeme se těšit na Vaši návštěvu našeho stánku č. V 094.
High Speed Digital Design and Verification aneb cesta od návrhu k fungujícímu prototypu
Vážení zákazníci,
rádi bychom Vás tímto pozvali na seminář, který pořádáme ve spolupráci se společností Agilent Technologies. V okamžiku, kdy rychlosti datových přenosů dosáhnou gigabitových hodnot, stává se chování signálu nepředvídatelné.
Abyste úspěšně zvládli komplikovanou cestu od návrhu až po bezchybnou realizaci, potřebujete celou řadu nástrojů pro návrh, simulaci a testování signálové integrity Vašeho řešení. Společnost Agilent Technologies má ve svém portfoliu návrhové, simulační i testovací prostředky, které Vás touto cestou bezpečně provedou.
Tento seminář je zaměřen na to, aby Vám ukázal, jak se úspěšně vyrovnat s výzvami návrhu a testování moderních vysokorychlostních datových sběrnic a jak dosáhnout co nejrychleji úspěšné realizace Vašeho návrhu. Na semináři budou přednášet experti z výrobních divizí a aplikační inženýři společnosti Agilent Technologies.
Seminář je určen pro inženýry, vývojáře, vědce a vedoucí týmů, kteří se věnují návrhu a testování rychlých datových sběrnic či komplexních systémů a PCB s vysokofrekvenčními digitálními signály.
Seminář se koná v úterý 4. prosince 2012 v hotelu Voroněž, Křížkovského 47, Brno. registrace
a ve středu 5. prosince 2012 v sídle společnosti H TEST, Šafránkova 3, Praha 5. registrace
Program semináře bude následující:
| 9:30 | Zahájení semináře |
| 9:45 | Hlavní výzvy v analýze a návrhu vysokorychlostních digitálních sběrnic |
| 10:15 | Základy testování digitálních sběrnic – eye diagram, rozklad a analýza jitteru |
| 11:00 | Proč používat simulační nástroje při návrhu vysokorychlostních signálových kanálů? |
| 12:00 | Přestávka na oběd |
| 13:00 | Kompenzace chyb při měření & charakterizace: virtuální sondy, extrakce modelu |
| 14:00 | Ladění digitálních systémů – ověřování a ladění na protokolové úrovni |
| 15:15 | Cesta od uzavření návrhu po testy shody |
| 16:15 | Ukončení semináře |
Podrobnější informace o jednotlivých přednáškách Vám v případě zájmu rádi zašleme.
Těšíme se na setkání s Vámi.
Měření elektronických součástek a elektrických parametrů materiálů
Vážení zákazníci,
rádi bychom Vás tímto pozvali na seminář Měření elektronických součástek a elektrických parametrů materiálů.
Seminář se koná v pondělí 1. října 2012 v budově Jihomoravského Inovačního Centra, ulice U Vodárny 2, Brno. mapka
Program semináře bude následující:
| 10:00 | Zahájení semináře |
| 10:00 - 10:45 | Co je vlastně impedance? |
|
|
| 10:45 - 11:30 | Metody měření impedance I. – LCR mosty a impedanční analyzátory |
|
|
| 11:30 | Přestávka na občerstvení |
| 12:00 - 13:00 | Metody měření impedance II. – obvodové analyzátory |
|
Pokud máte zájem se semináře zúčastnit, pošlete nám prosím krátkou zprávu o Vaší registraci.
Veškeré doplňující dotazy k těmto seminářům nebo Vaše požadavky na měřicí techniku Agilent Technologies Vám rádi zodpovíme na telefonu 235 365 207, nebo na e-mailu info@htest.cz.
Těšíme se na setkání s Vámi.
Všechno, co jste kdy potřebovali vědět o moderních zdrojích napětí a proudu
Vážení zákazníci,
moderní řízené zdroje napětí a proudu již dávno neslouží pouze k napájení. Moderní zdroje mohou testovat chování zařízení v různých podmínkách a provozních režimech, přesně měřit dynamické změny ve spotřebě elektrické energie či testovat polovodičové součástky.
Dovolte nám proto, abychom Vás tímto pozvali na náš seminář „Všechno, co jste kdy potřebovali vědět o moderních zdrojích napětí a proudu“.
Seminář se koná v úterý 12. června 2012 v budově Jihomoravského Inovačního Centra, ulice U Vodárny 2, Brno. [mapka]
Program semináře bude následující:
| 10:00 | Zahájení semináře |
| 10:05 | Co všechno byste měli vědět o svém stejnosměrném zdroji (aby Vám sloužil co nejlépe) |
| 10:30 | Moderní stejnosměrné zdroje jako univerzální nástroj testování baterií a bateriově napájených zařízení |
| 11:00 | Jak emulovat solární články? |
| 11:30 | Přestávka na občerstvení |
| 11:50 | Precizní zdroje napětí a proudu pro testování polovodičů a komponent |
| 12:45 | Jak vybrat správný střídavý zdroj pro svoji aplikaci |
Pokud máte zájem se semináře zúčastnit, pošlete nám prosím krátkou zprávu o Vaší registraci na email info@htest.cz.
Veškeré doplňující dotazy k těmto seminářům nebo Vaše požadavky na měřicí techniku Agilent Technologies či Pacific Power Vám rádi zodpovíme na telefonu 235 365 207, nebo na e-mailu info@htest.cz.
Těšíme se na setkání s Vámi.
Semináře – Elektromagnetická kompatibilita
Koncem listopadu 2011 jsme pro naše zákazníky v Praze a v Brně uspořádali seminář o testování elektromagnetické kompatibility (EMC) elektronických zařízení a jejich odolnosti vůči elektromagnetickému rušení. Na programu byl teoretický úvod do problematiky EMC, praktické ukázky měření a také představení produktů společnosti Haefely. Zájem ze strany našich zákazníků předčil všechna naše očekávání, takže jsme museli uspořádat ještě další kolo seminářů koncem ledna 2012 (opět v Praze a v Brně). Velmi nás potěšily kladné ohlasy od většiny účastníků.
V případě zájmu o problematiku elektromagnetické kompatibility nás neváhejte kontaktovat!
Demonstrační kamion Agilent Technologies
Vážení zákazníci,
po dvou letech si Vás opět dovolujeme pozvat k návštěvě našeho demonstračního kamionu s nejnovějšími měřicími přístroji společnosti Agilent Technologies, se kterým letos v rámci Agilent Tour 2010 navštívíme celkem 5 měst v České republice.
Program naší letošní cesty je následující:
- středa 21. dubna 2010, Plzeň, areál ZČU [mapka]
(areál Západočeské univerzity, Univerzitní ulice, před vchodem na fakultu elektrotechnickou) - čtvrtek 22. dubna 2010, Praha, areál ČVUT v Dejvicích [mapka]
(Praha, areál ČVUT v Dejvicích, Thákurova ulice, před vchodem na fakultu stavební) - pátek 23. dubna 2010, Liberec, areál Technické univerzity v Liberci [mapka]
(Liberec, areál Technické univerzity v Liberci, Studentská ulice) - pondělí 26. dubna 2010, Ostrava, areál VŠB-TU Ostrava [mapka]
(Ostrava, areál VŠB-TU Ostrava, tř. 17. listopadu, před budovou Centra Pokročilých Inovačních Technologií) - úterý 27. dubna 2010, Brno, areál VUT v Brně, Purkyňova ulice [mapka]
(Brno, areál VUT v Brně, Purkyňova ulice 118, parkoviště u budovy fakulty elektrotechnické a fakulty chemické)
V rámci Agilent Tour 2010 navštívime celkom 3 mestá v Slovenskej republike.
Program našej tohtoročnej cesty je nasledujúci:
- streda 28. apríla 2010, Bratislava, areál FEI STU v Mlynskej doline [mapka]
(FEI STU Ilkovičova 3, parkovisko pred pavilónom A) - štvrtok 29. apríla 2010, Žilina, areál Žilinskej univerzity [mapka]
(Univerzitná 1, parkovisko pri rektoráte Žilinskej univerzity) - piatok 30. apríla 2010, Košice, areál Technickej univerzity v Košiciach na Letnej 9 [mapka]
(parkovisko pri Združených posluchárňach vedľa Univerzitnej knižnice)
Kamion bude pro Vás na těchto místech otevřen vždy od 9:00 do 14:00.
Těšíme se na setkání s Vámi.
Semináře - Speciální měření v mikrovlnné oblasti
prezentace ze seminářů najdete zde:
http://www.htest.cz/download/MW seminar.zipVe spolupráci se společnostmi Agilent Technologies a Cascade Microtech si Vás dovolujeme pozvat na seminář věnovaný speciálním měřením v mikrovlnné oblasti. Na tomto semináři bychom Vás rádi seznámili s nejnovějšími metodami měření v zatím nepříliš běžných oblastech mikrovlnné techniky jako jsou THz frekvence, mikrovlnná skenovací mikroskopie či nelineární S-parametry. Na semináři budou přednášet specialisté firem Agilent Technologies, Cascade Microtech a H TEST.
Protože během našeho semináře nechceme zůstat pouze u slov, bude jeho součástí i živé předvedení měřicí techniky Agilent Technologies, jako například obvodového analyzátoru Agilent PNA-X s měřicími hlavami pro frekvence nad 110 GHz nebo unikátní sestavy AFM mikroskopu a obvodového analyzátoru Agilent PNA umožňující provádět měření elektrických vlastností materiálů v nanometrovém rozlišení.
Semináře se konají na konci února 2010 na následujících místech:
- v úterý 23. února 2010 v Praze, budova Národní technické knihovny, Technická 6, Praha 6 (areál ČVUT v Dejvicích), studovna 02, 1. patro,
- ve středu 24. února 2010 v Brně, budova Jihomoravského Inovačního centra - Technický inkubátor 2 (za areálem VUT v Brně), U Vodárny 2, Brno,
- ve čtvrtek 25. února 2010 v Bratislavě, Regus Business Centre Bratislava, Karadžičova 8/A, Bratislava.
Začátek semináře je vždy v 9:30.
Podrobný program včetně stručných anotací přednášek naleznete níže. Pro účastníky je také zajištěn oběd.
V případě Vašeho zájmu o účast na tomto semináři Vás prosím o vyplnění registračního formuláře
PDF nebo DOC a jeho zaslání na faxové číslo 235363893 nebo na e-mail info@htest.cz.
Program semináře
| 9:00 | Registrace účastníků |
| 9:30 | Zahájení semináře, úvodní slovo |
| 9:35 | Více než S-parametry - Nová architektura obvodových analyzátorů pro charakterizaci a simulaci aktivních prvků, Daniel Heckel, Agilent Technologies |
| 10:30 | Nelineární obvodová analýza a X-parametry, Daniel Heckel, Agilent Technologies |
| 11:30 | Měření v oblasti THz frekvencí, David Koskuba, H TEST a.s. |
| 12:15 | Přestávka na oběd, demostrace přístrojů |
| 13:00 | SMM - Scanning Microwave Microscopy, měření elektrických vlastností materiálů v měřítku nanometrů, Matthias Fenner, Agilent Technologies |
| 14:00 | Měření nezapouzdřených RF a MW prvků, Ruben Zowada, Cascade Microtech |
| 15:00 | Diskuze, demonstrace přístrojů |
| 16:00 | Ukončení semináře |
Stručné shrnutí obsahu jednotlivých přednášek [PDF].
Technické semináře 2009
V první polovině června 2009 uspořádala naše společnost tradiční technické semináře věnované měřicí technice Agilent Technologies.
Děkujeme všem účastníkům za přízeň a za hojnou účast.
Níže si můžete stáhnout jednotlivé prezentace:
- Novinky a vývojové trendy v měřicí technice Agilent pro rok 2009
Václav Haasz
Soubor PDF [1,8 MB] - Nové osciloskopy Agilent DSO9000 a novinky ve firmware pro osciloskopy Agilent InfiniiVision
Jiří Šmídek
Soubor PDF [1,5 MB] - RF měření v terénu i v laboratoři snadno a rychle
David Koskuba
Soubor PDF [1,5 MB] - Sady pro výuku elektroniky a elektrotechniky od společností Agilent a DreamCatcher
Jiří Šmídek
Soubor PDF [2,7 MB] - Sestavy pro základní parametrickou analýzu polovodičových součástek, Agilent VEE 9.0
David Koskuba
Soubor PDF [0,9 MB]
Seminář 2009 (Žilina)
- Nová registrácia
- Zapomenuté heslo
- Výpis objednávok
- Zobraziť kôš
- Vyprázdniť kôš
